Microscopio de fuerza atómica para la obtención de imágenes de nanoestructuras

Microscopio de fuerza atómica para la obtención de imágenes de nanoestructuras

Este sistema de microscopio de fuerza atómica (AFM) captura imágenes tridimensionales de nanoestructuras de materiales conductores, semiconductores y aislantes con una resolución de 20 pm y un control automático de barrido.

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