Este sistema permite la visualización en tiempo real de los estados de magnetización y la evolución de los dominios magnéticos en materiales y dispositivos espintrónicos con alta precisión espacial.
Este sistema utiliza el efecto magneto - óptico Kerr polar (polar MOKE) para analizar de forma no destructiva las propiedades magnéticas de pilas de wafers antes y después del patrón, con capacidad de medición de campo completo.
Este sistema captura señales Kerr polares, longitudinales y transversales para el análisis de la magnetización superficial, incluyendo histéresis, coercitividad y campos de saturación.
Este sistema micro MOKE permite la medición de histéresis magnética sin contacto en áreas pequeñas, proporcionando valores precisos de coercitividad, remanencia y campo de saturación.
Este sistema MOKE de nivel de investigación mide simultáneamente los ciclos de histéresis en el plano y fuera del plano, ideal para el análisis de alta precisión de materiales magnéticos.