Sistema de caracterización ferroeléctrica y prueba de histéresis
Este sistema realiza pruebas de ciclo de histéresis ferroeléctrico, fatiga, huella, fugas y C - V, así como la caracterización dieléctrica y de capacitancia para la evaluación de materiales.
Vibrómetro láser Doppler para el análisis de vibraciones de materiales
Este vibrómetro láser Doppler sin contacto proporciona datos de vibración de alta resolución para la prueba de materiales, ideal para MEMS, análisis de tensión y mediciones de respuesta dinámica.
Analizador de impedancia de precisión para materiales funcionales
Este analizador mide la impedancia compleja en diferentes frecuencias de materiales y componentes. Es adecuado para dispositivos electrónicos, muestras biológicas y pruebas dieléctricas.
Sistema de medición de carga y descarga de dieléctricos
Este sistema evalúa el comportamiento de carga y descarga de materiales dieléctricos en condiciones de alto voltaje, ideal para la investigación en almacenamiento de energía y condensadores.
Probador de resistencia de aislamiento de alto voltaje
Este probador evalúa la resistencia de aislamiento de materiales utilizando una configuración de placas paralelas con una capacidad mejorada de resistencia a la interferencia para pruebas de alto voltaje estables y precisas.
Sistema de medición LCR de múltiples canales
Este sistema admite pruebas LCR de múltiples canales para la medición precisa de la capacitancia, la inductancia y la resistencia en componentes, materiales y en la investigación y desarrollo de sensores.
Sistema de medición de propiedades dieléctricas
Este sistema mide la permitividad, la capacitancia y las pérdidas dieléctricas de materiales aislantes en amplios rangos de frecuencia y temperatura, con pruebas opcionales de ruptura y TSDC (corriente de polarización termostimulada).
Analizador de coeficientes piezoeléctricos
Este analizador mide el coeficiente piezoeléctrico d33 de PZT y otros materiales con alta sensibilidad, utilizando una excitación estable y un control digital basado en FPGA para una captura precisa de señales.
Plataforma de medición de propiedades eléctricas
Esta plataforma evalúa propiedades eléctricas como la ferroelectricidad, la piezoelectricidad, la dielectricidad y la resistividad en condiciones de alta y baja temperatura.
Microscopio de fuerza atómica para la obtención de imágenes de nanoestructuras
Este sistema de microscopio de fuerza atómica (AFM) captura imágenes tridimensionales de nanoestructuras de materiales conductores, semiconductores y aislantes con una resolución de 20 pm y un control automático de barrido.