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半導体研究および材料分析におけるキャリア移動度、抵抗率、ホール係数を測定する高精度システム。
CMT-100は、高度な部品を搭載し、半導体材料の分析に最適な高精度のホール効果測定を実現します。
CMT - 30は、永久磁石を用いた構成で高精度のホール効果測定を行い、基本的な磁場テストやセンサー評価に最適です。
CMT - 50は、半導体研究における正確なホール効果と抵抗率の分析を可能にし、安定した性能と信頼性の高い測定結果を提供します。
CMT - 60はコンパクトな形状で、正確なホール効果とキャリア移動度の測定を行えます。研究開発ラボのベンチトップでの使用に最適です。