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半導体研究および材料分析におけるキャリア移動度、抵抗率、ホール係数を測定する高精度システム。

CMT-100は、高度な部品を搭載し、半導体材料の分析に最適な高精度のホール効果測定を実現します。

CMT - 30は、永久磁石を用いた構成で高精度のホール効果測定を行い、基本的な磁場テストやセンサー評価に最適です。

CMT - 50は、半導体研究における正確なホール効果と抵抗率の分析を可能にし、安定した性能と信頼性の高い測定結果を提供します。

CMT - 60はコンパクトな形状で、正確なホール効果とキャリア移動度の測定を行えます。研究開発ラボのベンチトップでの使用に最適です。

CMT - 3000は、ホール効果、磁気抵抗、および電流 - 電圧（I - V）特性曲線のテストを統合した自動化システムで、高度な半導体材料の特性評価に適しています。

CMT-1000Tは、高温と低温の両方でのホール効果試験を可能にしており、磁石、ガウスメーター、デュアー容器、および精密な温度制御を統合しています。

CMT - 1000Hは、高温下でのホール効果分析に設計されており、真空チャンバー、ガウスメーター、温度制御装置、および磁石システムを統合しています。

CMT - 1000Lは、デュアー容器、磁石、および精密な電子機器を統合して、低温下でのホール効果試験を可能にし、極低温でのキャリア移動度分析に対応しています。

この自動化ホール効果システムは、マイクロプローブの高精度とHDTV顕微鏡を利用して、キャリア濃度、移動度、抵抗率、およびホール係数を測定します。