CMT-70 홀 효과 측정 시스템
반도체 연구 및 재료 분석에서 캐리어 이동도, 저항률 및 홀 계수를 측정하는 정밀 시스템.
CMT-100 고정밀 홀 효과 측정 시스템
CMT-100은 반도체 재료 분석을 위한 정밀한 홀 효과 측정을 제공하며, 최첨단 구성 요소를 탑재했습니다.
CMT-30 영구 자석 홀 효과 측정기
CMT - 30은 영구 자석 구성을 사용하여 정확한 홀 효과 측정을 제공하며, 기본 자장 테스트 및 센서 평가에 적합합니다.
CMT-50 표준 홀 효과 측정 시스템
CMT - 50은 반도체 연구를 위한 정확한 홀 효과 및 비저항 분석을 가능하게 하며, 안정적인 성능과 신뢰성 있는 측정 결과를 제공합니다.
CMT-60 컴팩트 홀 효과 측정 장치
CMT - 60은 컴팩트한 형태로 정확한 홀 효과 및 캐리어 이동도 테스트를 제공하며, 연구 개발 실험실의 벤치탑 사용에 적합합니다.
CMT-3000 홀 효과 특성 평가 장치
CMT - 3000은 홀 효과, 자기 저항 및 전류 - 전압 (I - V) 곡선 테스트를 통합한 자동화 시스템으로, 고급 반도체 재료의 특성 평가에 적합합니다.
CMT-1000T 이중 온도 홀 효과 테스트 시스템
CMT-1000T는 고온과 저온에서 홀 효과 테스트를 가능하게하며, 자석, 가우스 미터, 디워 상자 및 정밀한 온도 제어 기능을 통합합니다.
CMT-1000H 고온 홀 효과 측정 시스템
CMT - 1000H는 고온에서의 홀 효과 분석을 위해 설계되었으며, 진공 챔버, 가우스 미터, 온도 제어 장치 및 자석 시스템을 통합했습니다.
CMT-1000L 저온 홀 효과 테스트 시스템
CMT - 1000L은 통합된 디워, 자석 및 정밀 전자 장치를 이용해 저온에서의 홀 효과 테스트를 가능하게 하며, 극저온 캐리어 이동도 분석이 가능합니다.
자동화 홀 효과 측정 시스템
이 자동화된 홀 효과 시스템은 마이크로 프로브 정밀도와 HDTV 현미경을 이용해 캐리어 농도, 이동도, 비저항 및 홀 계수를 측정합니다.