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CMT-70 홀 효과 측정 시스템
반도체 연구 및 재료 분석에서 캐리어 이동도, 저항률 및 홀 계수를 측정하는 정밀 시스템.
CMT-100 고정밀 홀 효과 측정 시스템
CMT-100은 반도체 재료 분석을 위한 정밀한 홀 효과 측정을 제공하며, 최첨단 구성 요소를 탑재했습니다.
CMT-30 영구 자석 홀 효과 측정기
CMT - 30은 영구 자석 구성을 사용하여 정확한 홀 효과 측정을 제공하며, 기본 자장 테스트 및 센서 평가에 적합합니다.
CMT-50 표준 홀 효과 측정 시스템
CMT - 50은 반도체 연구를 위한 정확한 홀 효과 및 비저항 분석을 가능하게 하며, 안정적인 성능과 신뢰성 있는 측정 결과를 제공합니다.
CMT-60 컴팩트 홀 효과 측정 장치
CMT - 60은 컴팩트한 형태로 정확한 홀 효과 및 캐리어 이동도 테스트를 제공하며, 연구 개발 실험실의 벤치탑 사용에 적합합니다.