Ferroelektrisches Charakterisierungs - und Hystereseprüfungssystem
Dieses System führt Ferroelektrische Hystereseschleifen, Ermüdungs-, Imprint-, Leck- und C - V - Tests durch sowie die Charakterisierung der Dielektrizitätskonstante und Kapazität zur Materialbewertung.
Laserdopler - Vibrometer zur Materialschwingungsanalyse
Dieses berührungslose Laserdopler - Vibrometer liefert hochaufgelöste Schwingungsdaten für Materialprüfungen und ist ideal für MEMS, Dehnungsanalysen und dynamische Antwortmessungen.
Präzisions - Impedanzanalysator für funktionelle Materialien
Dieser Analysator misst die komplexe Impedanz von Materialien und Bauteilen über verschiedene Frequenzen. Er ist geeignet für elektronische Geräte, biologische Proben und Dielektrikumsprüfungen.
Messsystem für die Ladung und Entladung von Dielektrika
Dieses System wertet das Lade - und Entladeverhalten von Dielektrika unter Hochspannungsbedingungen aus und ist ideal für die Forschung in der Energiespeicherung und bei Kondensatoren.
Hochspannungs - Isolationswiderstandsprüfer
Dieser Prüfer wertet den Isolationswiderstand von Materialien mithilfe einer Parallelplattenanordnung aus. Er verfügt über eine verbesserte Störunterdrückung für stabile und genaue Hochspannungsprüfungen.
Multikanaliges LCR - Messsystem
Dieses System unterstützt Mehrkanal - LCR - Tests zur präzisen Messung von Kapazität, Induktivität und Widerstand in Bauteilen, Materialien und bei der Sensorforschung und -entwicklung.
Messsystem für dielektrische Eigenschaften
Dieses System misst die Dielektrizitätskonstante, Kapazität und dielektrischen Verluste von Isolationsmaterialien in einem breiten Frequenz - und Temperaturbereich. Optional können Durchschlags - und TSDC - Tests durchgeführt werden.
Analysator für piezoelektrische Koeffizienten
Dieser Analysator misst den piezoelektrischen Koeffizienten d33 von PZT und anderen Materialien mit hoher Empfindlichkeit. Er verwendet eine stabile Anregung und eine FPGA - basierte digitale Steuerung für eine präzise Signalerfassung.
Messplattform für elektrische Eigenschaften
Diese Plattform wertet elektrische Eigenschaften wie Ferroelektrizität, Piezoelektrizität, Dielektrizität und Leitfähigkeit unter hohen und niedrigen Temperaturen aus.
Rasterkraftmikroskop zur Abbildung von Nanostrukturen
Dieses Rasterkraftmikroskop (AFM) erfasst 3D - Bilder von Nanostrukturen in leitenden, halbleitenden und isolierenden Materialien mit einer Auflösung von 20 pm und verfügt über eine automatisierte Scansteuerung.