Прецизионная система для измерения подвижности носителей заряда, удельного сопротивления и коэффициента Холла в исследованиях полупроводников и анализе материалов.
СИСТЕМА ВЫСОКОТОЧНОГО ИЗМЕРЕНИЯ ЭФФЕКТА ХОЛЛА CMT-100 обеспечивает точные измерения эффекта Холла с использованием передовых компонентов для анализа полупроводниковых материалов.
МЕТР ИЗМЕРЕНИЯ ЭФФЕКТА ХОЛЛА С ПОСТОЯННЫМ МАГНИТОМ CMT - 30 обеспечивает точные измерения эффекта Холла с использованием постоянного магнита. lýdealен для базовых тестов магнитного поля и оценки датчиков.
СТАНДАРТНАЯ СИСТЕМА ИЗМЕРЕНИЯ ЭФФЕКТА ХОЛЛА CMT - 50 позволяет проводить точный анализ эффекта Холла и удельного сопротивления для исследований полупроводников, обеспечивая стабильную работу и надежные результаты измерений.
КОМПАКТНЫЙ ИНСТРУМЕНТ ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ЭФФЕКТА ХОЛЛА CMT - 60 обеспечивает точное тестирование эффекта Холла и подвижности носителей заряда в компактном корпусе. lýdealен для использования на лабораторном столе в исследовательских и разработочных лабораториях.
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ХАРАКТЕРИЗАЦИИ ЭФФЕКТА ХОЛЛА CMT - 3000 представляет собой автоматизированную систему, которая интегрирует тестирование эффекта Холла, магнитосопротивления и ВАХ для характеристики передовых полупроводниковых материалов.
СИСТЕМА ИЗМЕРЕНИЯ ЭФФЕКТА ХОЛЛА С ДВУМЯ ТЕМПЕРАТУРАМИ CMT-1000T позволяет проводить тестирование эффекта Холла при высоких и низких температурах, интегрируя магнит, Гауссметр, дьюар и точный контроль температуры.
СИСТЕМА ИЗМЕРЕНИЯ ЭФФЕКТА ХОЛЛА ПРИ ВЫСОКОЙ ТЕМПЕРАТУРЕ CMT - 1000H разработана для анализа эффекта Холла при высоких температурах и интегрирует вакуумную камеру, Гауссметр, систему контроля температуры и магнитную систему.
СИСТЕМА ТЕСТИРОВАНИЯ ЭФФЕКТА ХОЛЛА ПРИ НИЗКОЙ ТЕМПЕРАТУРЕ CMT - 1000L позволяет проводить тестирование эффекта Холла при низких температурах с использованием интегрированного дьюара, магнита и прецизионной электроники для анализа подвижности носителей при криогенных температурах.
АВТОМАТИЗИРОВАННАЯ СИСТЕМА ИЗМЕРЕНИЯ ЭФФЕКТА ХОЛЛА измеряет концентрацию носителей, подвижность, удельное сопротивление и коэффициент Холла с точностью микро - зонда и с использованием HDTV - микроскопии.