СИСТЕМА ХАРАКТЕРИЗАЦИИ И ИСПЫТАНИЯ ГИСТЕРЕЗИСА ФЕРРОЭЛЕКТРИКОВ
СИСТЕМА ХАРАКТЕРИЗАЦИИ И ИСПЫТАНИЯ ГИСТЕРЕЗИСА ФЕРРОЭЛЕКТРИКОВ выполняет испытания петель гистерезиса, усталости, запоминания, утечки и ВАХ емкости в ферроэлектриках, а также проводит характеризацию диэлектрических свойств и емкости для оценки материалов.
ЛАЗЕРНЫЙ ДОППЛЕРОВСКИЙ ВИБРОМЕТР ДЛЯ АНАЛИЗА ВИБРАЦИИ МАТЕРИАЛОВ
ЛАЗЕРНЫЙ ДОППЛЕРОВСКИЙ ВИБРОМЕТР ДЛЯ АНАЛИЗА ВИБРАЦИИ МАТЕРИАЛОВ обеспечивает высокоразрешающую информацию о вибрациях материалов для проведения испытаний, идеально подходит для микроэлектромеханических систем (MEMS), анализа деформаций и измерений динамического отклика.
ТОЧНЫЙ АНАЛИЗАТОР ИМПЕДАНСА ДЛЯ ФУНКЦИОНАЛЬНЫХ МАТЕРИАЛОВ
ТОЧНЫЙ АНАЛИЗАТОР ИМПЕДАНСА ДЛЯ ФУНКЦИОНАЛЬНЫХ МАТЕРИАЛОВ измеряет комплексный импеданс материалов и компонентов в различных частотах. Подходит для испытаний электронных устройств, биологических образцов и диэлектриков.
СИСТЕМА ИЗМЕРЕНИЯ ЗАРЯДА И РАЗРЯДА ДИЭЛЕКТРИКОВ
СИСТЕМА ИЗМЕРЕНИЯ ЗАРЯДА И РАЗРЯДА ДИЭЛЕКТРИКОВ позволяет оценить поведение диэлектрических материалов при заряде и разряде в условиях высокого напряжения, что идеально подходит для исследований в области накопления энергии и конденсаторов.
ТЕСТЕР СОПРОТИВЛЕНИЯ ИЗОЛЯЦИИ НА ВЫСОКОМ НАПРЯЖЕНИИ
ТЕСТЕР СОПРОТИВЛЕНИЯ ИЗОЛЯЦИИ НА ВЫСОКОМ НАПРЯЖЕНИИ позволяет оценить сопротивление изоляции материалов с использованием установки с параллельными пластинами. Имеет улучшенную способность противодействовать помехам, что обеспечивает стабильные и точные испытания на высоком напряжении.
МНОГОКАНАЛЬНАЯ СИСТЕМА ИЗМЕРЕНИЯ LCR
МНОГОКАНАЛЬНАЯ СИСТЕМА ИЗМЕРЕНИЯ LCR поддерживает многоканальные испытания LCR для точного измерения емкости, индуктивности и сопротивления в компонентах, материалах и при исследовании и разработке сенсоров.
СИСТЕМА ИЗМЕРЕНИЯ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ СВОЙСТВ
СИСТЕМА ИЗМЕРЕНИЯ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ СВОЙСТВ позволяет измерять диэлектрическую проницаемость, емкость и диэлектрические потери изоляционных материалов в широких диапазонах частот и температур. Также предусмотрены опциональные испытания на электрическое пробой и измерения термостимулированного диэлектрического тока (TSDC).
АНАЛИЗАТОР ПИЕЗОЭЛЕКТРИЧЕСКОГО КОЭФФИЦИЕНТА
АНАЛИЗАТОР ПИЕЗОЭЛЕКТРИЧЕСКОГО КОЭФФИЦИЕНТА позволяет измерять пьезоэлектрический коэффициент d33 пьезоэлектрического керамического материала PZT и других материалов с высокой чувствительностью. Использует стабильное возбуждение и цифровой контроль на основе ПЛИС для точного захвата сигнала.
ПЛАТФОРМА ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ЭЛЕКТРИЧЕСКИХ СВОЙСТВ
ПЛАТФОРМА ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ЭЛЕКТРИЧЕСКИХ СВОЙСТВ позволяет оценить электрические свойства, такие как сегнетоэлектричество, пьезоэлектричество, диэлектрические свойства и удельное сопротивление при высоких и низких температурах.
АТОМНО - СИЛОВОЙ МИКРОСКОП ДЛЯ ИМАГИНГА НАНОСТРУКТУР
АТОМНО - СИЛОВОЙ МИКРОСКОП ДЛЯ ИМАГИНГА НАНОСТРУКТУР позволяет получать трехмерные изображения наноструктур проводящих, полупроводящих и диэлектрических материалов с разрешением 20 пм и имеет автоматизированный контроль сканирования.